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JEOL : Lancement d'un nouveau cryo-microscope électronique à émission de champ froid CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300)

·3 min de lecture

JEOL Ltd. (TOKYO : 6951) (président et directeur de l'exploitation Izumi Oi) annonce un nouveau cryo-microscope électronique à émission de champ froid (cryo-EM), le CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300), dont le lancement est prévu en janvier 2021. Ce nouveau cryo-EM a été développé en se basant sur le concept « Rapide et facile à utiliser avec des images à haut contraste et haute résolution ».

Ce communiqué de presse contient des éléments multimédias. Voir le communiqué complet ici : https://www.businesswire.com/news/home/20210125005280/fr/

Cold Field Emission Cryo-Electron Microscope CRYO ARM(TM) 300 II (JEM-3300) (Photo: Business Wire)

Contexte du développement

L’amélioration spectaculaire récente de l'analyse de particules isolées (single particle analysis, SPA) utilisant cryo-EM a abouti à la SPA comme méthode essentielle dans l'analyse structurelle des protéines. Afin de répondre à ce marché, JEOL a lancé le CRYO ARM™ 300 en 2017. Équipé d'un pistolet à émission de champ froid (Cold FEG) pour optimiser la résolution et d'un cryo-étage pour charger de multiples échantillons, le CRYO ARM™ 300 a continué d'offrir une résolution de premier ordre pour la SPA.

Le workflow de SPA précédent utilisant cryo-EM nécessite toutefois plusieurs microscopes électroniques car les workflows de criblage d'échantillons et d'acquisition de données d'imagerie sont indépendants l'un de l'autre. Ce problème occasionne des frais d'utilisation importants pour les utilisateurs du cryo-EM. Comme plusieurs microscopes doivent être utilisés, il n'est pas pratique de transférer des cryo-échantillons entre les cryo-EM. Les utilisateurs ont donc demandé un cryo-EM unique permettant un workflow complet allant du criblage des échantillons à l'acquisition de données d'imagerie. Qui plus est, pour que divers utilisateurs puissent utiliser le cryo-EM, il a fallu améliorer la facilité d'utilisation pour permettre à n'importe qui, des utilisateurs néophytes aux utilisateurs professionnels, d'utiliser facilement le microscope.

Afin de répondre à ces demandes, JEOL a développé un nouveau cryo-EM, le CRYO ARM™ 300 II. Le microscope est nettement amélioré en termes de débit pour une acquisition de données de haute qualité et une utilisation facile comparé au CRYO ARM™ 300 précédent.

Fonctionnalités principales

1. Une imagerie à grande vitesse obtenue grâce à un contrôle par faisceau d'électron optimal

2. Une stabilité matérielle améliorée assurant une acquisition d'image de haute qualité

3. Une opérabilité supérieure grâce à un système amélioré

Cible de vente d’unités annuelle

10 unités par an

Cryo-microscope électronique à émission de champ froid CRYO ARM™ 300 II (JEM-3300)
https://www.jeol.co.jp/en/products/detail/JEM-3300.html

JEOL Ltd.
3-1-2, Musashino, Akishima, Tokyo, 196-8558, Japon
Izumi Oi, Président et directeur d’exploitation
(Code boursier : 6951, Première section de la Bourse de Tokyo)
www.jeol.com

Le texte du communiqué issu d’une traduction ne doit d’aucune manière être considéré comme officiel. La seule version du communiqué qui fasse foi est celle du communiqué dans sa langue d’origine. La traduction devra toujours être confrontée au texte source, qui fera jurisprudence.

Consultez la version source sur businesswire.com : https://www.businesswire.com/news/home/20210125005280/fr/

Contacts

JEOL Ltd.
Division de vente des instruments de science et de mesure
Hideya UENO
+81-3-6262-3567
https://www.jeol.co.jp/en/support/support_system/contact_products.html